紅外線測厚儀的的影響因素

紅外線測厚儀是塑料薄膜雙向拉伸行業(yè)中的關(guān)鍵設(shè)備，正是它的出現(xiàn)保證了雙拉生產(chǎn)線產(chǎn)品厚度均勻性。本文主要介紹紅外線測厚儀的影響因素

紅外線測厚儀主要有主機和探頭兩部分組成。主機電路包括發(fā)射電路、接收電路、計數(shù)顯示電路三部分，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波，脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收，通過單片機計數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值，它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過試樣的時間的一半而得到試樣的厚度。

 影響測量精度的原因
（1） 覆蓋層厚度大于25µm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
（2） 基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
（3） 任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響;
（4） 渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應(yīng),即對靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量是不可靠的.
（5） 試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
（6） 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大;
（7） 渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測量前應(yīng)清除測頭 和覆蓋層表面的污物;測量時應(yīng)使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸.

隨著社會的進(jìn)步、科技的發(fā)展，人們的環(huán)保意識越來越強。紅外線測厚儀由于環(huán)保無放射性物質(zhì)，很好地滿足了社會進(jìn)步的要求。行業(yè)發(fā)展的需要。目前，子啊薄膜雙向拉伸行業(yè)內(nèi)，紅外線測厚儀正在取代傳統(tǒng)的射線測厚儀，廣泛應(yīng)用于吹塑薄膜，多層薄膜。敷塑薄膜，滌綸薄膜等透明半透明薄膜的厚度的檢測與控制。